1. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時電感取100uH，15MHz時電感取1.5uH。

2. 被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間(當材料介電大于6的情況下建議材料≥2mm)，樣品太薄或太厚就會使測試精度下降，樣品要盡可能平整。

3. 調節S916測試夾具的測微桿，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設置為0。

1. 再松開兩片極片，把被測樣品夾入平板電容上下極片之間，調節S916測試夾具的測微桿，直到平板電容極片夾住樣品止（注意調節時要用S916測試夾具的測微桿，以免夾得過緊或過松），這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D₂。改變主機上的主調電容容量（旋轉主調電容旋鈕改變主調電容電容量），使主機處于諧振點（Q值Z大值）上。

2. 取出S916測試夾具中的樣品，這時主機又失去諧振（Q值變小），此時調節S916測試夾具的測微桿，使主機再回到諧振點（Q值Z大值）上，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值記為D_4.

3. 計算被測樣品的介電常數:

二 介質損耗測試方法與步驟

1. 主機C₀值的計算方式:

a) 選一個適當的諧振電感接到“Lx”的兩端；

b) 將調諧電容器調到200P左右，令這個電容是C₄，

c) 按下儀器面板的頻率搜索鍵，使測試回路諧振，諧振時Q的讀數為Q₄(注：若頻率搜索未能找到Z高Q值諧振點，可以通過頻率旋鈕來微調頻率來達到Q值Z大值的諧振點；

d) 將測試夾具接在“Cx”兩端，放入材料，上下極片夾緊材料后記住夾具顯示值，然后拿出材料，調回到夾具的顯示數值，調節主調電容，使測試電路重新諧振，此時可變電容器值為C₃，Q值讀數為Q₃。(注：C₃數值肯定比C₄要小)

機構電容的有效電容為：C_z= C₄－C₃

分布電容為機構電容C_Z和電感分布電容C_L（參考電感的技術說明）的和

介質損耗系數/介質損耗正切值為

2. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。

3. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時電感取100uH，15MHz時電感取1.5uH。

4. 被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會使測試精度下降，樣品要盡可能平直。

5. 調節S916測試夾具的測微桿，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設置為0。再松開兩片極片，把被測樣品夾入兩片極片之間，調節S916測試夾具的測微桿，到的平板電容極片夾住樣品止（注意調節時要用S916測試夾具的，以免夾得過緊或過松），這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D₂，改變主機上的主調電容容量，使主機處于諧振點（Q值Z大值，為了得到準確的Q值請耐心來回調節主調電容，當Q值為Z大值時候可以稍等1分鐘，等Q值穩定），然后按一次 主機上的小數點（tgδ）鍵，在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C₀= x x x(C₀=C_z+C_L電感分布電容)需要手動輸入，記住厚度D₂的值，此時顯示數值為C₂和Q₂。

6. 取出S916測試夾具中的樣品，（保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變）這時主機又失去諧振（Q值變小），再改變主機上的主調電容容量，使主機重新處于諧振點（Q值Z大值，為了得到準確的Q值請耐心來回調節主調電容，當Q值為大值時候可以稍等1分鐘，等Q值穩定）上。

7. 注意：多次測試同一個材料時，要求保持每次材料厚度的讀數大致相同。

8. 第二次按下 主機上的小數點（tgδ）鍵，顯示屏上原C₂和Q₂顯示變化為C₁和Q₁，同時顯示介質損耗系數tn =．x x x x x ，即完成測試。

9. 出錯提示，當出現tn =  NO 顯示時，說明測試時出現了差錯，發生了Q₁ ≤ Q₂和C₁ ≤ C₂的錯誤情況。

附錄 一

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